隨著Chiplet、車規(guī)級芯片與高性能計算芯片滲透率持續(xù)提升，半導體測試需求迎來爆發(fā)式增長。老化測試作為篩除早期失效、保障芯片長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對設(shè)備供電系統(tǒng)提出嚴苛要求：不僅要確保長時間穩(wěn)定運行，還需應對動態(tài)負載、高溫環(huán)境等復雜挑戰(zhàn)。面對長達1-7天的測試周期，如何在單位時間內(nèi)完成更多測試任務，直接決定產(chǎn)線效率與測試成本。

金升陽POL電源系列始于2018年，緊貼DOSA/POLA標準設(shè)計，融合數(shù)字電源技術(shù)，以其高精度、高密度、高效率的特性，成為低壓大電流應用的優(yōu)質(zhì)可靠之選。

一、產(chǎn)品特點

1、寬壓可調(diào)，降本提效

寬范圍輸入電壓： 4.5-14.4 VDC，輸出電壓可調(diào)：0.6-5.5 VDC。通過上位機快速調(diào)節(jié)輸出，以滿足各類低壓DUT的測試需求，提升測試設(shè)備歸一化程度，降低設(shè)備購置成本。

2、大電流輸出，滿足并行需求

產(chǎn)品系列覆蓋6-100A電流范圍，滿足多模塊并行老化的應用需求。以KD12T-60A為例，若單個DUT負載為0.8-1A，可同時老化＞60pcs DUT，測試效率大幅提升。

3、超小體積，適配緊湊空間

體積低至12.20*12.20*8.6mm，完美適配老化測試夾具的極致空間需求。

4、輸出穩(wěn)定，保障測試一致性

老化測試周期較長，對電源長期穩(wěn)定運行要求嚴苛。本系列產(chǎn)品電壓精度低至2mV，輸出穩(wěn)定可靠；在健全的質(zhì)量管理體系下，產(chǎn)品通過高溫老化、高低溫工作（-40℃ / 85℃帶電工作）、溫度循環(huán)、溫度沖擊、絕緣耐壓等長期可靠性測試，可為DUT提供穩(wěn)定、一致性更高的測試條件。

5、狀態(tài)全周期監(jiān)控，異常早發(fā)現(xiàn)

具備Power Good功能，主控設(shè)備可全周期監(jiān)控電源狀態(tài)，異常即刻反饋，有效避免因供電異常導致影響老化測試進度，進而引發(fā)的產(chǎn)能不足、交付延期等連鎖問題。

二、產(chǎn)品應用